DEAD THICKNESSES MEASUREMENT IN CHIMERA SILICON DETECTOR.

LANZALONE, GAETANO

Membro del Collaboration Group

;P. Russotto;S. Cavallaro;F. Amorini;L. Auditore;G. Cardella;E. Costa;M. D’Andrea;E. De Filippo;N. Giudice;A. Grimaldi;P. Guazzoni;E. La Guidara;C. Maiolino;C. Marchetta;M. Papa;G. Politi;S. Pirrone;F. Porto;F. Rizzo;S. Russo;G. Saccà;M. Sassi;A. Trifirò;M. Trimarchi;S. Urso;L. Zetta

2005