DEAD THICKNESSES MEASUREMENT IN CHIMERA SILICON DETECTOR / Lanzalone G; P.Russotto; S.Cavallaro; F.Amorini; L.Auditore; G.Cardella; E. Costa; M.D’Andrea; E.De Filippo; N.Giudice; A.Grimaldi; P. Guazzoni; E.La Guidara; C.Maiolino; C.Marchetta; M.Papa; G.Politi; S.Pirrone; F.Porto; F.Rizzo; S.Russo; G.Saccà; M.Sassi; A. Trifirò; M. Trimarchi; S.Urso; L. Zetta. - In: LNS. ACTIVITY REPORT. - ISSN 1827-1561. - 2004(2005).
Titolo: | DEAD THICKNESSES MEASUREMENT IN CHIMERA SILICON DETECTOR. |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2005 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11387/7517 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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